Détails relatifs à l'auteur

CHERRAD, Abdeladim, UFAS1, ALGÉRIE

  • - Materials and thin films synthesis, characterizations and applications
    Surface morphology, electrical resistivity and structural study of Ni/Au/Si(111) annealed system up to 800C.
    Résumé


Universit Ferhat ABBAS Stif1

Site El Bez Stif 19000-Algrie

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