KRISCHOK, Stefan, Institute of Physics, Institute of Micro- and Nanotechnologies MacroNano®, Technische Universität Ilmenau, ALLEMAGNE

• La 1ère Ecole d’Automne sur les Matériaux Emergents(EAME) - Communications générales
  Morphological and X-Ray Photoelectron Spectroscopy Characterization of Al2O3 and Al:ZnO Coated Black Silicon (100) by Atomic Layer Deposition
  Résumé